Microscopie en champ sombre (DFM) et Imagerie hyperspectrale (HSI)

La microscopie en champ sombre (DFM) couplée à l’imagerie hyperspectrale (HSI) donne une carte détaillée des spectres de résonance plasmon de surface (SPR) pour chaque pixel. La fréquence SPR des nanoparticules (NP) dépend à la taille des particules, à la forme, aux propriétés diélectriques, à la morphologie des agrégats, à la modification de surface et à l’indice de réfraction du milieu environnant. En général, le pic d’absorption du SPR passe à des longueurs d’onde plus longues avec une augmentation de la taille des particules. L’enregistrement d’un spectre d’absorbance pour chaque pixel dans l’image est dépendant de l’élément (c’est-à-dire une empreinte élémentaire) et, par conséquent, il est possible d’identifier la présence de NP définis, ce qui permet de générer une carte de distribution de NP et leurs agrégats dans l’échantillon. La visualisation des NP avec un microscope optique standard présente le grand avantage qu’un nombre élevé de cellules ou une surface plus grande peut être étudiée en peu de temps (des heures à des jours) en évitant l’incorporation et la procédure de section qui nécessitent beaucoup de temps demandez pour TEM (semaines à mois). Il permet également d’étudier les effets en temps réel en effectuant le suivi des mêmes NP dans le même échantillon au fil du temps.

Ce contenu a été mis à jour le 12 mai 2022 à 16 h 36 min.